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某种光模块芯片瑕疵的视觉检测装置
大学仕 2021-07-13 09:34
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        本发明公开了种光模块芯片瑕疵的视觉检测装置,其结构包括检测台,检测台上设有光模块芯片的传输线,传输线的正上方悬空设置有工位槽,工位槽延伸至传输线的传输末端,传输线带动光模块芯片进行传送时,光模块芯片始终位于工位槽的内部,工位槽上设有光模块芯片的外观检测工位、缺陷转移工位以及成品转移工位述外观检测工位、缺陷转移工位以及成品转移工位沿着传输线的传送方向设置,本发明提高了光模块芯片外观检测的效率和准确性。

        1.种光模块芯片瑕疵的视觉检测装置,其结构包括检测台(101),所述检测台(101)上设有光模块芯片的传输线(100),其特征在于:所述传输线(100)的正上方悬空设置有工位槽(1),所述工位槽(1)延伸至所述传输线(100)的传输末端,所述传输线(100)带动光模块芯片进行传送时,光模块芯片始终位于所述工位槽(1)的内部,所述工位槽(1)上设有光模块芯片的外观检测工位(200)、缺陷转移工位(300)以及成品转移工位(400),所述外观检测工位(200)、所述缺陷转移工位(300)以及所述成品转移工位(400)沿着所述传输线(100)的传送方向设置; 所述外观检测工位(200)上设有光模块芯片的外观检测件(2),所述缺陷转移工位(300)上设有第一位置转移件(3)以及收集箱(102),所述第一位置转移件(3)将外观缺陷的光模块芯片从所述缺陷转移工位(300)转移至所述收集箱(102),所述成品转移工位(400)上设有第二位置转移件(4)以及光模块芯片的成品收集件(5),所述第二位置转移件(4)将外观完整的光模块芯片从所述成品转移工位(400)转移至所述成品收集件(5)。


        2.根据权利要求1所述的种光模块芯片瑕疵的视觉检测装置,其特征在于:所述工位槽(1)包括两个相互平行的夹条(11)、两个设置在所述检测台(101)上的固定件(12)以及校准件(13),两个相互平行的夹条(11)悬空在所述传输线(100)的正上方,两个所述固定件(12)对称设置在所述夹条(11)的两侧,所述固定件(12)包括若干固定在所述检测台(101)上的固定块(121)以及固定杆(122),所述固定杆(122)的一端固定在所述固定块(121)上,所述固定杆(122)的另一端固定在所述夹条(11)的侧面上; 所述校准件(13)包括垂直固定在检测台(101)上的支撑板(131)以及角钢(132),所述角钢(132)的其中一个侧面开设有两个夹口槽(6),两个所述夹口槽(6)的间距对应两个夹条(11)之间的间距,所述角钢(132)的一端固定在所述支撑板(131)上,所述夹口槽(6)一一卡入两个所述夹条(11)上,所述角钢(132)的另一个侧面覆盖在两个所述夹条(11)的上方。

        3.根据权利要求2所述的种光模块芯片瑕疵的视觉检测装置,其特征在于:所述缺陷转移工位(300)上设有两个相对设置出口槽(7),两个所述出口槽(7)分别相对开设在两个所述夹条(11)上,其中一个所述出口槽(7)上设有倾斜滑道(71),所述倾斜滑道(71)的末端延伸进入所述收集箱(102); 所述第一位置转移件(3)的结构和所述第二位置转移件(4)的结构相同,所述第一位置转移件(3)包括垂直设置在所述检测台(101)上的支撑杆(31)、设置在所述支撑杆(31)上的旋转气缸(32)以及设置在所述旋转气缸(32)上的推块(33),在所述缺陷转移工位(300)上,所述推块(33)设置在其中一个所述出口槽(7)上且延伸方向正面朝向所述倾斜滑道(71)。


        4.根据权利要求3所述的种光模块芯片瑕疵的视觉检测装置,其特征在于:所述成品转移工位(400)设有倾斜方向朝向所述成品收集件(5)的终点滑道(8),所述终点滑道(8)固定在两个所述夹条(11)的末端,在所述成品转移工位(400)中,所述推块(33)的延伸方向正面朝向所述终点滑道(8)。

        5.根据权利要求4所述的种光模块芯片瑕疵的视觉检测装置,其特征在于:所述成品收集件(5)包括设置在所述终点滑道(8)正下方的横向底座(51)、底盘(52)以及收集托盘(53),所述横向底座(51)上设有横向气缸(511),所述底盘(52)可横向滑动的设置在所述横向底座(51)上,所述横向气缸(511)的输出端和所述底盘(52)固定连接,所述底盘(52)向外延伸有纵向固定板(521),所述纵向固定板(521)垂直于所述横向底座(51),所述收集托盘(53)可滑动的设置在所述纵向固定板(521)上,所述纵向固定板(521)上设有纵向气缸(522),所述纵向气缸(522)的输出端和所述收集托盘(53)的底部固定连接,所述横向气缸(511)和所述纵向气缸(522)的驱动方向相互垂直,所述收集托盘(53)上分布有若干方形槽(531),若干所述方形槽(531)在所述收集托盘(53)的排列呈正方形。

        6.根据权利要求1所述的种光模块芯片瑕疵的视觉检测装置,其特征在于:所述外观检测件(2)包括设置在所述检测台(101)上的竖杆(21)、可上下运动设置在所述竖杆(21)上的升降座(22)以及设置在所述升降座(22)底部的图像检测模块(23),所述图像检测模块(23)位于所述外观检测工位(200)的正上方。


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