本发明公开了某种产品外观检测设备的校准方法及标定块，涉及产品外观缺陷检测技术领域。该校准方法包括：将多个第一标定板设置于特征标定块的各面上；通过图像处理算法计算得出特征标定块各面的第一标定板的平均灰度方差G，调整设备的方位使平均灰度方差G小于预设灰度方差；通过图像处理算法提取特征标定块上设置有刻度标尺的刻度区域并测量刻度间像素间隔，调整设备与特征标定块间的间距，使像素间隔处于预设像素间隔范围内，以使对应特征标定块的实际长度处于预设长度范围内；获取设置在特征标定块上箭头定点所在的图像像素坐标，调整设备位置使图像像素坐标与预设坐标的误差在预设误差值内。本发明能提高检测准确度，可靠性高。

        1.某种产品外观检测设备的校准方法，其特征在于，包括： S1、将多个第一标定板(2)设置于特征标定块(1)的各个面上； S2、通过图像处理算法计算得出所述特征标定块(1)每个面上的所述第一标定板(2)的平均灰度方差G，调整设备的方位使所述平均灰度方差G小于预设灰度方差； S3、通过图像处理算法提取所述特征标定块(1)上设置有刻度标尺(3)的刻度区域并测量刻度间的像素间隔； 调整所述设备与所述特征标定块(1)之间的间距，使像素间隔处于预设像素间隔范围内，以使对应的所述特征标定块(1)的实际长度处于预设长度范围内； S4、获取设置在所述特征标定块(1)上的箭头(4)的顶点所在的图像像素坐标，调整所述设备的位置使所述图像像素坐标与预设坐标的误差在预设误差值之内。

        2.根据权利要求1所述的产品外观检测设备的校准方法，其特征在于，所述步骤S2具体包括： S21、通过图像处理算法将所述特征标定块(1)各面中的所述第一标定板(2)区域提取出来； S22、计算得出各个所述第一标定板(2)的灰度值G i，计算得出所述特征标定块(1)中每个面上的所述第一标定板(2)的平均灰度值  S23、根据公式 计算得出所述平均灰度方差G，其中，n为所述特征标定块(1)每个面上的所述第一标定板(2)的总个数，i为当前所述第一标定板(2)的序号； S24、调整所述设备的方位，使每个面的所述平均灰度方差G小于所述预设灰度方差。

        3.根据权利要求2所述的产品外观检测设备的校准方法，其特征在于，所述步骤S1具体包括： S11、在所述特征标定块(1)的顶面和侧面上分别开设预设数量的凹槽(11)； S12、将多个所述第一标定板(2)一一对应设置于多个所述凹槽(11)内。

        4.根据权利要求3所述的产品外观检测设备的校准方法，其特征在于，所述步骤S3中，所述刻度标尺(3)上的刻度最小间隔为1mm。

        5.根据权利要求1所述的产品外观检测设备的校准方法，其特征在于，所述步骤S4中，所述箭头(4)设于所述特征标定块(1)的对称轴上。

        6.根据权利要求5所述的产品外观检测设备的校准方法，其特征在于，所述步骤S4中，通过图像处理算法将所述特征标定块(1)上的所述箭头(4)提取出来，再计算所述箭头(4)顶点所在的图像像素坐标。

        7.根据权利要求1所述的产品外观检测设备的校准方法，其特征在于，还包括： S5、将第二标定板(6)包覆于灰度标定块(5)上的各面上； S6、计算得出所述灰度标定块(5)上每个面的所述第二标定板(6)的灰度值； S7、调整设备位置，使所述第二标定板(6)的灰度值小于预设面灰度值。

        8.根据权利要求7所述的产品外观检测设备的校准方法，其特征在于，所述步骤S6中，调整设备中的光源强度，计算得出在不同光源强度下所述灰度标定块(5)上每个面的所述第二标定板(6)的灰度值。

        9.某种产品外观检测的标定块，其特征在于，采用如权利要求1-8任一项所述的产品外观检测设备的校准方法，所述产品外观检测的标定块包括： 特征标定块(1)， 第一标定板(2)，设有多个，多个所述第一标定板(2)分别设置于所述特征标定块(1)的各个面上； 刻度标尺(3)，设置于所述特征标定块(1)上； 箭头(4)，设置于所述特征标定块(1)上。

        10.根据权利要求9所述的产品外观检测的标定块，其特征在于，所述产品外观检测的标定块还包括灰度标定块(5)和第二标定板(6)，所述第二标定板(6)包覆于所述灰度标定块(5)的各个面上。

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