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某种LED发光性能的自动化测试装置
大学仕 2021-04-30 14:19
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       本发明公开了LED发光性能的自动化测试装置和方法。本发明控制待测产品每个LED单元依次点亮和关闭;采集所述LED单元发出的光信号,并将其分别转换为R、G、B基色通道的测试数据;分析测试数据进行测试结果判定。本发明具有更高的准确性,更快捷的测试速度,极大的提高了测试效率。

 

1.LED发光性能的自动化测试装置,其特征在于,包括:测试上位机,用于向待测产品发送测试指令,控制待测产品每个LED单元的点亮或者关闭;向采集模块发送采集控制指令,使采集模块进行采集状态;以从采集模块接测试数据,并且分析测试数据进行测试结果判定;采集模块,用于感应所述待测产品的LED单元发出的光信号,并将其分别转换为R.G、B基色通道的测试数据,提供给所述测试上位机测试治具,所述测试治具用于固定至少2个所述待测产品,并且利用光导纤维将待测产品的每个LED单元发出的光信号引导至所述采集模块;所述测试治具包括采光装置,所述采光装置包括牵引头和移动装置,所述牵引头与光导纤维固接,所述移动装置带动-根所述光导纤维分别对准待测产品上多个LED单元进行采集光信号。


2.根据权利要求I所述的LED发光性能的自动化测试装置,其特征在于,所述采集模块包括颜色感应器件、信号放大电路、模数转换电路、通讯单元以及MCU器件;所述颜色感应器用于接收所述待测产品的每个LED单元发出的光信号,并转换为R、GB基色通道的电信号:所述信号放大电路对所述R、G、B基色通道的电信号进行放大处理;所述模数转换电路将放大后的电信号进行模数转换,生成R、G、B基色通道的测试数据:所述MCU器件通过所述通讯单元将R.G、B基色通道的测试数据上传给所述测试上位机。

3.根据权利要求2所述的LED发光性能的自动化测试装置,其特征在于,所述测试上位机根据所述测试数据,分析亮度系数以及R、G、B基色通道各自的比率系数,并判断所述亮度系数和比率系数是否处于发光性能参数合格范围内。

4.根据权利要求1所述的LED发光性能的自动化测试装置,其特征在于,所述采光装置还包括上挡板,所述上挡板上设有放置槽,所述移动装置设置于所述放置槽内,所述移动装置包括第一滑动件和第二滑动件,所述第一滑动件带动所述牵引头沿X轴方向移动,所述第二滑动件带动所述牵引头沿Y轴方向移动,所述第--滑动组件固定连接于所述第二滑动件的下方。

5.根据权利要求1所述的LED发光性能的自动化测试装置,其特征在于,所述测试上位机通过交互界面显示测试结果,和/或保存测试结果数据。


6.根据权利要求1所述的LED发光性能的自动化测试装置,其特征在于,所述采集模块还包括供电电路,供电电路用于连接所述测试治具并对所述待测产品进行供电。

7.--种LED发光性能的自动化测试方法,其特征在于,包括:控制待测产品每个LED单元依次点亮和关闭;采集所述LED单元发出的光信号,并将其分别转换为R.G、B基色通道的测试数据;分析测试数据进行测试结果判定。


8.根据权利要求7所述的LED发光性能的自动化测试方法,其特征在于,对测试数据的分析包括:计算所述LED单元的亮度系数以及R、G、B基色通道各自的比率系数,并判断所述亮度系数和比率系数是否处于发光性能参数合格范围内。

9.根据权利要求8所述的LED发光性能的自动化测试方法,其特征在于,所述亮度系数采用如下方式计算:计算所述LED单元在R、G、B基色通道的基色数值,即△R=R1-R0、OG=G1-G0、△B= B1- B0:其中,R1、G1、B1为所述LED单元点亮状态下采集的R、G、B基色通道的测试数据;RO、G0、B0为所述LED单元关闭状态下采集的R、G、B基色通道的测试数据;利用R、G、B基色通道的基色数值,计算该LED单元的亮度系数LUM,即LUM=△R+△G+△B。


10.根据权利要求8所述的LED发光性能的自动化测试方法,其特征在于,所述比率系数采用如下方式计算:计算所述LED单元在R、G、B基色通道的基色数值,即△R=R1-R0、△G=G1 -G0、OB=B1-B0;其中,R1、G1、B1为所述LED单元点亮状态下采集的R、G、B基色通道的测试数据;R0、GO、BO为所述LED单元关闭状态下采集的R、G .B基色通道的测试数据;计算R、G、B基色通道的比率系数,即Rr=△R/(OR+OG+△B) ,Gr=△G/(OR+△G+AB) , Br=△B/(OR+OG+△B)。

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